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基礎信息Product information
產品名稱：
半導體封裝材料多通道介電測試系統
產品型號：HTDM-10
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2024-10-28
產品簡介：
半導體封裝材料多通道介電測試系統，主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用光耦繼電器，高速又耐用、切換時間 1 ms、高速I/O 輸出控制。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
多通道介電測試系統
型號：HTDM-10
多通道介電測試系統主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用光耦繼電器，高速又耐用、切換時間 1 ms、高速I/O 輸出控制。
基于 IM3570 與 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測試系統
（發揮寬頻帶、通道間誤差少的優點，與 LCR 多路測試軟件 CN040 組合，可用于多通道介電與電阻測量，也可適用于電子零件和傳感器的研究開發。）
PC 軟件
LCR 多路測試軟件
掃描、比較器
針對所有通道設置測試條件（量程、頻率、比較器等）可某個通道的 ON 與 OFF
可循環進行掃描測試
同時可在本地保存測試條件
OPEN&SHORT 補償
可對應各通道的開短路補償
如若利用 LCR 的設置切換功能則需要較長的切換時間，在軟件內進行了開短路補償計算，可維持高速的掃描時間
數據保存
掃描的數據可根據通道進行保存
半導體封裝材料多通道介電測試系統
半導體封裝材料多通道介電測試系統
半導體封裝材料多通道介電測試系統
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